Num mundo onde os dispositivos eletrónicos estão cada vez mais densos e complexos, as interferências eletromagnéticas (EMI) e de radiofrequência (RFI) representam desafios críticos de conformidade e desempenho. Os osciloscópios MXO da Rohde & Schwarz surgem como aliados de excelência na deteção precoce e resolução destas interferências.
Com análise FFT acelerada por hardware, elevada sensibilidade (500 μV/div) e resolução até 18 bits, os MXO permitem visualizar em simultâneo sinais no domínio do tempo e da frequência. Esta capacidade é essencial para identificar emissões esporádicas e localizar a origem física da interferência com sondas de campo próximo.
Além disso, permitem aplicar e validar técnicas de mitigação como filtros EMI RFI, blindagens e otimizações no layout de PCBs. Ferramentas como disparadores por máscara e espectrogramas codificados por cor tornam o processo mais eficaz e preciso.
A conformidade com normas EMC e a eficiência no desenvolvimento de novos produtos passam hoje, inevitavelmente, por soluções como os MXO. A sua tecnologia permite reduzir falhas, acelerar validações e otimizar custos.
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